北理工分析測試中心舉辦顯微成像分析技術(shù)交流會
發(fā)布日期：2021-10-21 供稿：分析測試中心 張芳 攝影：陳尚
編輯：李世青 審核：彭紹春 閱讀次數(shù)：
“十三五”以來，北京理工大學分析測試中心緊密圍繞學?！半p一流”建設(shè)中心任務(wù)，以滿足多學科發(fā)展及高層次人才需求為主要目標，累計引進雙球差校正電鏡、單球差校正電鏡、場發(fā)射透射電鏡、雙束掃描電鏡、原子力顯微鏡等大型電鏡類儀器設(shè)備，打造了設(shè)備種類多樣、搭配合理、功能全面、性能優(yōu)異的高水平電鏡平臺，為我校相關(guān)學科的科學研究和人才培養(yǎng)工作起到重要的支撐保障作用。
為使我校師生更好的了解掃描電鏡技術(shù)與應(yīng)用的最新進展，10月15日，中心聯(lián)合卡爾·蔡司公司在良鄉(xiāng)校區(qū)工業(yè)生態(tài)樓118會議室舉辦了顯微成像分析技術(shù)研討會。本次交流會由中心電鏡平臺主管張芳主持，特邀蔡司公司高級應(yīng)用工程師楊瑞和沙學超作報告。來自化學與化工學院、物理學院、材料學院、光電學院、先進結(jié)構(gòu)技術(shù)研究院、前沿交叉科學研究院、醫(yī)工融合研究院、徐特立學院、求是書院等單位的80余名師生到場參會。
中心副主任許冰致歡迎詞，介紹了中心近幾年來的發(fā)展建設(shè)、電鏡平臺大型設(shè)備的引進及配置情況，并向蔡司公司對本次交流會的支持表示感謝。蔡司公司高級應(yīng)用工程師楊瑞為與會師生介紹了蔡司掃描電鏡最新技術(shù)進展，分享了掃描電鏡在金屬材料、電池材料、高分子復合材料等領(lǐng)域的應(yīng)用；蔡司北京實驗室應(yīng)用工程師沙學超為與會師生介紹了LaserFIB最新技術(shù)的進展和發(fā)展趨勢，分享了LaserFIB在材料科學樣品制備領(lǐng)域的最新應(yīng)用。與會師生們就自己在科研課題中遇到的相關(guān)表征與分析的技術(shù)問題與專家進行了深入交流，專家們詳細講述了如何利用掃描電鏡表征與分析技術(shù)去解決在科學研究中遇到的各種實際問題并做出高水平學術(shù)成果。
交流會結(jié)束后，與會人員參觀了中心電鏡平臺各實驗室，并與中心技術(shù)人員開展了現(xiàn)場交流。此次交流會是中心“我為群眾辦實事”系列活動之一，得到了參會師生的高度認可。中心將繼續(xù)圍繞我校相關(guān)學科的發(fā)展建設(shè)，以廣大師生的切實需求為出發(fā)點，繼續(xù)舉辦此類活動，促進廣大師生交流，提高專業(yè)人員專業(yè)技能，充分發(fā)揮中心在學?！半p一流”建設(shè)中的重要作用。
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